Детальная информация

Название Исследование импульсной электрической прочности современных чип-конденсаторов. 1. Основные экспериментальные результаты // Научно-технические ведомости СПбПУ. Сер.: Естественные и инженерные науки. – 2018. – Т. 24, № 1
Авторы Плотников Андрей Павлович ; Емельянов Олег Анатольевич ; Белько Виктор Олегович ; Курьяков Роман Андреевич
Организация Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого ; АО "НИИ "Гириконд"
Выходные сведения Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2018
Коллекция Общая коллекция
Тематика Энергетика ; Конденсаторы ; чип-конденсаторы ; электрическая прочность ; импульсная прочность ; грозовые импульсы ; электромагнитная совместимость ; отказы конденсаторов ; конденсаторное напряжение ; chip capacitors ; dielectric strength ; impulse strength ; lightning impulses ; electromagnetic compatibility ; capacitor failures ; capacitor voltage
УДК 621.319.4
ББК 31.264.6
Тип документа Статья, доклад
Тип файла Другой
Язык Русский
DOI 10.18721/JEST.240105
Права доступа Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\53748
Дата создания записи 15.10.2018

Разрешенные действия

Прочитать Загрузить (1,6 Мб)

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

Разработаны установки для определения импульсной электрической прочности чип-конденсаторов и напряжения их пробоя под воздействием грозовых импульсов. Экспериментально получены функции распределения указанных характеристик, обнаружено что они соответствуют нормальному закону. Получены осциллограммы тока и напряжения на конденсаторах, а также зависимость емкости и тангенса угла потерь от амплитудного напряжения испытательного импульса. Выполнен анализ отказов испытанных конденсаторов. Выделены основные возможные причины отказа чип-конденсаторов, представлены предварительные оценки по каждой из потенциальных причин отказа.

The goal of the paper is testing the short-pulse dielectric strength of chip capacitors and lightning impulse testing with subsequent failure analysis. The experimental setups are developed in order to determine the short-pulse dielectric strength and lightning impulse withstand voltage. The distribution functions of these characteristics have been found to follow the normal distribution. The oscillograms of current and voltage across the capacitors are presented, as well as the dependence of the capacitance and dissipation factor on the testing impulse voltage magnitude. A brief failure analysis is carried out. The main failure mechanisms are highlighted.

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Все

Количество обращений: 554 
За последние 30 дней: 22

Подробная статистика