Детальная информация

Название: Исследование импульсной электрической прочности современных чип-конденсаторов. 1. Основные экспериментальные результаты // Научно-технические ведомости СПбПУ. Сер.: Естественные и инженерные науки. – 2018 Т. 24, № 1
Авторы: Плотников Андрей Павлович; Емельянов Олег Анатольевич; Белько Виктор Олегович; Курьяков Роман Андреевич
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого; АО "НИИ "Гириконд"
Выходные сведения: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2018
Коллекция: Общая коллекция
Тематика: Энергетика; Конденсаторы; чип-конденсаторы; электрическая прочность; импульсная прочность; грозовые импульсы; электромагнитная совместимость; отказы конденсаторов; конденсаторное напряжение; chip capacitors; dielectric strength; impulse strength; lightning impulses; electromagnetic compatibility; capacitor failures; capacitor voltage
УДК: 621.319.4
ББК: 31.264.6
Тип документа: Статья, доклад
Язык: Русский
DOI: 10.18721/JEST.240105
Права доступа: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,6 Мб)

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Разработаны установки для определения импульсной электрической прочности чип-конденсаторов и напряжения их пробоя под воздействием грозовых импульсов. Экспериментально получены функции распределения указанных характеристик, обнаружено что они соответствуют нормальному закону. Получены осциллограммы тока и напряжения на конденсаторах, а также зависимость емкости и тангенса угла потерь от амплитудного напряжения испытательного импульса. Выполнен анализ отказов испытанных конденсаторов. Выделены основные возможные причины отказа чип-конденсаторов, представлены предварительные оценки по каждой из потенциальных причин отказа.

The goal of the paper is testing the short-pulse dielectric strength of chip capacitors and lightning impulse testing with subsequent failure analysis. The experimental setups are developed in order to determine the short-pulse dielectric strength and lightning impulse withstand voltage. The distribution functions of these characteristics have been found to follow the normal distribution. The oscillograms of current and voltage across the capacitors are presented, as well as the dependence of the capacitance and dissipation factor on the testing impulse voltage magnitude. A brief failure analysis is carried out. The main failure mechanisms are highlighted.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования

stat Количество обращений: 94
За последние 30 дней: 5
Подробная статистика