Детальная информация

Название Спектроскопия полной проводимости гетероструктур фосфида бора на кремниевых подложках, полученных методом плазмохимического осаждения // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. – 2024. – Т. 17, № 3. — С. 17-24
Авторы Баранов А. И. ; Вторыгин Г. Э. ; Уваров А. В. ; Максимова А. А. ; Вячеславова Е. А. ; Гудовских А. С.
Выходные сведения 2024
Коллекция Общая коллекция
Тематика Физика ; Спектроскопия ; фосфид бора ; гетероструктуры ; проводимость гетероструктур ; спектроскопия полной проводимости ; кремниевые подложки ; плазмохимическое осаждение ; водородная плазма ; boron phosphide ; heterostructures ; conductivity of heterostructures ; total conductivity spectroscopy ; silicon substrates ; plasma chemical deposition ; hydrogen plasma
УДК 535.33
ББК 22.344
Тип документа Статья, доклад
Тип файла PDF
Язык Русский
DOI 10.18721/JPM.17302
Права доступа Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\75152
Дата создания записи 04.02.2025

Разрешенные действия

Прочитать Загрузить (352 Кб)

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

Проведены исследования слоев фосфида бора ВР и гетеропереходов BP/n-Si, сформированных методом плазмохимического осаждения при температуре 350 С на подложках n-Si с использованием диборана и фосфина. Установлено, что увеличение мощности водородной плазмы позволяет избежать пиннинга уровня Ферми на границе BP/n-Si. Дополнительное разбавление потоком водорода приводило к увеличению проводимости слоя ВР, а поведение вольтамперной характеристики структуры Au/BP/n-Si (золотой электрод) становилось выпрямляющим. Методом спектроскопии полной проводимости были обнаружены поверхностные состояния электронов на границах BP/n-Si во всех образцах и глубокие электронные уровни с энергией 0,58 - 0,65 эВ в слоях ВР, выращенных без дополнительного потока водорода.

The study of BP layers and BP/n-Si heterojunctions formed by plasma enhanced chemical deposition on n-Si substrates has been carried out at a temperature of 350 C using diborane and phosphine. The additional enhancement of hydrogen plasma power was established to make it possible to avoid pinning of the Fermi level at the BP/n-Si interface. Moreover, additional dilution with a hydrogen flow led to an increase in the BP layer conductivity, and the behavior of the current-voltage characteristic of the Au/BP/n-Si structure (golden electrode) became rectifying. Surface states of electrons at the BP/n-Si heterojunctions in all the samples and deep electronic levels with energy 0.58-0.65 eV in BP layers grown without the additional hydrogen flow were detected by admittance spectroscopy.

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Все

Количество обращений: 81 
За последние 30 дней: 23

Подробная статистика