Details
Title | Спектроскопия полной проводимости гетероструктур фосфида бора на кремниевых подложках, полученных методом плазмохимического осаждения // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. – 2024. – Т. 17, № 3. — С. 17-24 |
---|---|
Creators | Баранов А. И. ; Вторыгин Г. Э. ; Уваров А. В. ; Максимова А. А. ; Вячеславова Е. А. ; Гудовских А. С. |
Imprint | 2024 |
Collection | Общая коллекция |
Subjects | Физика ; Спектроскопия ; фосфид бора ; гетероструктуры ; проводимость гетероструктур ; спектроскопия полной проводимости ; кремниевые подложки ; плазмохимическое осаждение ; водородная плазма ; boron phosphide ; heterostructures ; conductivity of heterostructures ; total conductivity spectroscopy ; silicon substrates ; plasma chemical deposition ; hydrogen plasma |
UDC | 535.33 |
LBC | 22.344 |
Document type | Article, report |
File type | |
Language | Russian |
DOI | 10.18721/JPM.17302 |
Rights | Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Record key | RU\SPSTU\edoc\75152 |
Record create date | 2/4/2025 |
Проведены исследования слоев фосфида бора ВР и гетеропереходов BP/n-Si, сформированных методом плазмохимического осаждения при температуре 350 С на подложках n-Si с использованием диборана и фосфина. Установлено, что увеличение мощности водородной плазмы позволяет избежать пиннинга уровня Ферми на границе BP/n-Si. Дополнительное разбавление потоком водорода приводило к увеличению проводимости слоя ВР, а поведение вольтамперной характеристики структуры Au/BP/n-Si (золотой электрод) становилось выпрямляющим. Методом спектроскопии полной проводимости были обнаружены поверхностные состояния электронов на границах BP/n-Si во всех образцах и глубокие электронные уровни с энергией 0,58 - 0,65 эВ в слоях ВР, выращенных без дополнительного потока водорода.
The study of BP layers and BP/n-Si heterojunctions formed by plasma enhanced chemical deposition on n-Si substrates has been carried out at a temperature of 350 C using diborane and phosphine. The additional enhancement of hydrogen plasma power was established to make it possible to avoid pinning of the Fermi level at the BP/n-Si interface. Moreover, additional dilution with a hydrogen flow led to an increase in the BP layer conductivity, and the behavior of the current-voltage characteristic of the Au/BP/n-Si structure (golden electrode) became rectifying. Surface states of electrons at the BP/n-Si heterojunctions in all the samples and deep electronic levels with energy 0.58-0.65 eV in BP layers grown without the additional hydrogen flow were detected by admittance spectroscopy.
Access count: 81
Last 30 days: 23