Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
Пособие соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины «Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ» направления бакалаврской подготовки 550500 «Металлургия». Приведены краткие сведения о методах подготовки образцов для электронной микроскопии. Рассмотрены основные моменты, связанные с использованием вакуумной техники, включая методы измерения вакуума, даны практические указания по выполнению лабораторных работ с использованием просвечивающего электронного микроскопа ЭМВ-100Л и растрового микроскопа-анализатора РЭМ 100У. Приведен порядок выполнения работ и план составления отчета. Предназначено для студентов, обучающихся по плану бакалавров направления «Металлургия» курса «Физико-химические методы анализа», а также для студентов других металлургических и материаловедческих специальностей.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного технического университета.
Document access rights
Network | User group | Action | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All | |||||
Internet | Authorized users SPbPU | |||||
Internet | Anonymous |
Table of Contents
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- 1. Основные методы подготовки образцов
- 2. Схема и работа вакуумной системы микроскопа
- 3. Методы измерения вакуума
- 4. Электронно-микроскопическое изучение углеродистой стали с использованием просвечивающего микроскопа (работа №1)
- 5. Электронно-микроскопическое исследование алюминия прямым методом (работа №2).
- 6. Устройство и работа растрового электронного микроскопа РЭМ-100У (работа №3)
- 7. Микроренттеноспектральный анализ легированных сталей на микроскопе- анализаторе РЭМ-100У (работа №4)
- 8. Список литературы
Usage statistics
Access count: 6
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |