Details

Title: Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ: лабораторный практикум
Creators: Горшков Иван Иванович
Organization: Санкт-Петербургский государственный технический университет
Imprint: Санкт-Петербург: Изд-во СПбГТУ, 2001
Electronic publication: Санкт-Петербург, 2020
Collection: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Subjects: Электронная микроскопия
UDC: 669:539.25(076.5)
Document type: Tutorial
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 16.00.00
Speciality group (FGOS): 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI: 10.18720/SPBPU/2/si20-1332
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Пособие соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины «Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ» направления бакалаврской подготовки 550500 «Металлургия». Приведены краткие сведения о методах подготовки образцов для электронной микроскопии. Рассмотрены основные моменты, связанные с использованием вакуумной техники, включая методы измерения вакуума, даны практические указания по выполнению лабораторных работ с использованием просвечивающего электронного микроскопа ЭМВ-100Л и растрового микроскопа-анализатора РЭМ 100У. Приведен порядок выполнения работ и план составления отчета. Предназначено для студентов, обучающихся по плану бакалавров направления «Металлургия» курса «Физико-химические методы анализа», а также для студентов других металлургических и материаловедческих специальностей.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного технического университета.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Table of Contents

  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • 1. Основные методы подготовки образцов
  • 2. Схема и работа вакуумной системы микроскопа
  • 3. Методы измерения вакуума
  • 4. Электронно-микроскопическое изучение углеродистой стали с использованием просвечивающего микроскопа (работа №1)
  • 5. Электронно-микроскопическое исследование алюминия прямым методом (работа №2).
  • 6. Устройство и работа растрового электронного микроскопа РЭМ-100У (работа №3)
  • 7. Микроренттеноспектральный анализ легированных сталей на микроскопе- анализаторе РЭМ-100У (работа №4)
  • 8. Список литературы

Usage statistics

stat Access count: 2
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics