Детальная информация
| Название | Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов: учебное пособие |
|---|---|
| Авторы | Андреева Валентина Дмитриевна ; Новиков Евгений Васильевич ; Боричева Ирина Константиновна ; Спешилова Анастасия Борисовна |
| Организация | Санкт-Петербургский государственный политехнический университет |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2008 |
| Электронная публикация | Санкт-Петербург, 2020 |
| Коллекция | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Тематика | Рентгенография |
| УДК | 548.73(075.8) |
| Тип документа | Учебник |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Код специальности ФГОС | 22.00.00 |
| Группа специальностей ФГОС | 220000 - Технологии материалов |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/si20-141 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\62692 |
| Дата создания записи | 31.07.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Рассмотрены некоторые современные методики рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального анализов, а также растровой электронной, сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии. Эти сведения представлены в пособии в виде лабораторных работ, выполняемых студентами по тематике, соответствующей теоретическим материалам. В рамках работ студенты изучают методы рентгеновского анализа и принципы работы атомно-силового микроскопа и методы определения резонансной частоты зонда и получения топографии поверхности исследуемого образца. Целью учебного пособия является получение практических знаний при рентгеновских исследованиях поликристаллических материалов. Пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям: «Наноматериалы и нанотехнология», «Материаловедение и технология новых материалов», «Металлургия», «Физика», «Химия, химическая технология и биотехнология» и других смежных специальностей, а также могут быть рекомендованы аспирантам и специалистам, обучающимся по программе дополнительного профессионального образования в области рентгеновского, рентгеноспектрального и электронно-микроскопического анализов.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
- Оглавление
- Введение
- РАБОТА 1. Индицирование порошковых рентгенограмм
- РАБОТА 2. Качественный фазовый анализ. Устройство дифрактометр
- РАБОТА 3. Определение параметров решетки при съемке на дифрактометре
- РАБОТА 4. Количественный фазовый анализ
- РАБОТА 5. Определение толщины покрытия по ослаблению рентгеновского излучения, дифрагированного материалом подложки
- РАБОТА 6. Определение макронапряжений в изделиях
- РАБОТА 7. Определение параметров тонкой структуры методом аппроксимации
- РАБОТА 8. Микро-рентгеноспектральный анализ и растровая электронная микроскопия. Отработка методики исследования нанокристаллических образцов
- РАБОТА 9. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии
- РАБОТА 10. Сканирующая туннельная микроскопия. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии
- Библиографический список
- Приложение 1. Угловые факторы поглощения Р (0 )Ц 0 )
- Приложение 2. Массовые коэффициенты ослабления
- Приложение 3. Плотности веществ при 20°С
- Приложение 4. Рентгеновские упругие постоянные монокристаллов
- Приложение 5. Междублетные расстояния
Количество обращений: 144
За последние 30 дней: 1
