Details

Title Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов: учебное пособие
Creators Андреева Валентина Дмитриевна ; Новиков Евгений Васильевич ; Боричева Ирина Константиновна ; Спешилова Анастасия Борисовна
Organization Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Imprint Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2008
Electronic publication Санкт-Петербург, 2020
Collection Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция
Subjects Рентгенография
UDC 548.73(075.8)
Document type Tutorial
File type PDF
Language Russian
Speciality code (FGOS) 22.00.00
Speciality group (FGOS) 220000 - Технологии материалов
DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-141
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key RU\SPSTU\edoc\62692
Record create date 7/31/2020

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Рассмотрены некоторые современные методики рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального анализов, а также растровой электронной, сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии. Эти сведения представлены в пособии в виде лабораторных работ, выполняемых студентами по тематике, соответствующей теоретическим материалам. В рамках работ студенты изучают методы рентгеновского анализа и принципы работы атомно-силового микроскопа и методы определения резонансной частоты зонда и получения топографии поверхности исследуемого образца. Целью учебного пособия является получение практических знаний при рентгеновских исследованиях поликристаллических материалов. Пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям: «Наноматериалы и нанотехнология», «Материаловедение и технология новых материалов», «Металлургия», «Физика», «Химия, химическая технология и биотехнология» и других смежных специальностей, а также могут быть рекомендованы аспирантам и специалистам, обучающимся по программе дополнительного профессионального образования в области рентгеновского, рентгеноспектрального и электронно-микроскопического анализов.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous
  • Оглавление
  • Введение
  • РАБОТА 1. Индицирование порошковых рентгенограмм
  • РАБОТА 2. Качественный фазовый анализ. Устройство дифрактометр
  • РАБОТА 3. Определение параметров решетки при съемке на дифрактометре
  • РАБОТА 4. Количественный фазовый анализ
  • РАБОТА 5. Определение толщины покрытия по ослаблению рентгеновского излучения, дифрагированного материалом подложки
  • РАБОТА 6. Определение макронапряжений в изделиях
  • РАБОТА 7. Определение параметров тонкой структуры методом аппроксимации
  • РАБОТА 8. Микро-рентгеноспектральный анализ и растровая электронная микроскопия. Отработка методики исследования нанокристаллических образцов
  • РАБОТА 9. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии
  • РАБОТА 10. Сканирующая туннельная микроскопия. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии
  • Библиографический список
  • Приложение 1. Угловые факторы поглощения Р (0 )Ц 0 )
  • Приложение 2. Массовые коэффициенты ослабления
  • Приложение 3. Плотности веществ при 20°С
  • Приложение 4. Рентгеновские упругие постоянные монокристаллов
  • Приложение 5. Междублетные расстояния

Access count: 145 
Last 30 days: 1

Detailed usage statistics