Details

Title: Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов: учебное пособие
Creators: Андреева Валентина Дмитриевна; Новиков Евгений Васильевич; Боричева Ирина Константиновна; Спешилова Анастасия Борисовна
Organization: Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Imprint: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2008
Electronic publication: Санкт-Петербург, 2020
Collection: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Subjects: Рентгенография
UDC: 548.73(075.8)
Document type: Tutorial
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 22.00.00
Speciality group (FGOS): 220000 - Технологии материалов
DOI: 10.18720/SPBPU/2/si20-141
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Рассмотрены некоторые современные методики рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального анализов, а также растровой электронной, сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии. Эти сведения представлены в пособии в виде лабораторных работ, выполняемых студентами по тематике, соответствующей теоретическим материалам. В рамках работ студенты изучают методы рентгеновского анализа и принципы работы атомно-силового микроскопа и методы определения резонансной частоты зонда и получения топографии поверхности исследуемого образца. Целью учебного пособия является получение практических знаний при рентгеновских исследованиях поликристаллических материалов. Пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям: «Наноматериалы и нанотехнология», «Материаловедение и технология новых материалов», «Металлургия», «Физика», «Химия, химическая технология и биотехнология» и других смежных специальностей, а также могут быть рекомендованы аспирантам и специалистам, обучающимся по программе дополнительного профессионального образования в области рентгеновского, рентгеноспектрального и электронно-микроскопического анализов.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Table of Contents

  • Оглавление
  • Введение
  • РАБОТА 1. Индицирование порошковых рентгенограмм
  • РАБОТА 2. Качественный фазовый анализ. Устройство дифрактометр
  • РАБОТА 3. Определение параметров решетки при съемке на дифрактометре
  • РАБОТА 4. Количественный фазовый анализ
  • РАБОТА 5. Определение толщины покрытия по ослаблению рентгеновского излучения, дифрагированного материалом подложки
  • РАБОТА 6. Определение макронапряжений в изделиях
  • РАБОТА 7. Определение параметров тонкой структуры методом аппроксимации
  • РАБОТА 8. Микро-рентгеноспектральный анализ и растровая электронная микроскопия. Отработка методики исследования нанокристаллических образцов
  • РАБОТА 9. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии
  • РАБОТА 10. Сканирующая туннельная микроскопия. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии
  • Библиографический список
  • Приложение 1. Угловые факторы поглощения Р (0 )Ц 0 )
  • Приложение 2. Массовые коэффициенты ослабления
  • Приложение 3. Плотности веществ при 20°С
  • Приложение 4. Рентгеновские упругие постоянные монокристаллов
  • Приложение 5. Междублетные расстояния

Usage statistics

stat Access count: 15
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics