Таблица | Карточка | RUSMARC | |
Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Изложены теоретические сведения об энергетическом спектре электронов, статистике носителей заряда и методах вычисления концентрации электронов и дырок в полупроводниках. Представлены результаты расчетов температурных зависимостей концентрации носителей заряда в полупроводниках с конкретными значениями параметров зонного спектра и концентрации примесей. Описаны способы получения информации о параметрах полупроводника, носителей заряда и примесей из анализа этих зависимостей. Учебное пособие с таким же названием, изданное в 2000 г., в настоящем издании существенно переработано и дополнено. Предназначено для студентов, специализирующихся в различных областях экспериментальной физики, а также аспирантов, инженеров и научных работников.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
Права на использование объекта хранения
Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все | |||||
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ | |||||
Интернет | Анонимные пользователи |
Оглавление
- Оглавление
- Введение
- 1. Электронные состояния дефектов в полупроводниках
- 2. Концентрация носителей заряда в полупроводниках
- 3. Уравнение нейтральности
- 4. Статистика электронов и дырок в полупроводниках
- 5. Свойства силынолегированного полупроводника
- Заключение
- Библиографический список
- Приложение 1. Значения некоторых физических постоянных
- Приложение 2. Фундаментальные параметры некоторых полупроводниковых материалов
- Приложение 3. Интегралы Ферми
- Приложение 4. Задачи
Статистика использования
Количество обращений: 40
За последние 30 дней: 0 Подробная статистика |