| Таблица | Карточка | RUSMARC | |
|
|
Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Рассмотрены вопросы, связанные с исследованием физико-химических свойств приповерхностной области твердых тел методами вторично-электронной спектроскопии. Проанализированы физические основы вторично-электронной спектроскопии с угловым разрешением и возможности извлечения информации об энергетическом строении приповерхностной области твердых тел этим методом. Представлены современные методы низкоэнергетической вторично-электронной спектроскопии; рассмотрены основные направления их использования. Приведены сведения о спектроскопии спин-поляризованных электронов; кратко рассмотрены источники и детекторы поляризованных электронов, основные виды информации о поверхности и процессах эмиссии и рассеяния электронов, получаемые с помощью этой спектроскопии. Пособие предназначено для студентов специальности «Физическая электроника», а также может быть полезно студентам, аспирантам и инженерам близких специальностей.
Права на использование объекта хранения
| Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
||||
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
||||
|
Интернет | Анонимные пользователи |
Оглавление
- С О Д Е Р Ж А Н И Е
- Введение
- Г л а в а 1. Вторично-электронная спектроскопия с угловым разрешением
- Г л а в а 2. Низкоэнергетическая вторично-электронная спектроскопия
- Г л а в а 3. Спектроскопия спин-поляризованных электронов
- Литература
Статистика использования
|
|
Количество обращений: 9
За последние 30 дней: 0 Подробная статистика |