Details

Title: Сканирующая туннельная микроскопия графена на микростуктурированной подложке: дипломная работа: 210104
Creators: Глинских Алексей Андреевич
Scientific adviser: Рыков Сергей Александрович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2016
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: графен; туннельная микроскопия; оптоэлектроника; graphene; tunneling microscopy; optoelectronics
Document type: Specialist graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Specialist
Speciality code (OKSO): 210104
Speciality group (OKSO): 210000 - Электронная техника, радиотехника и связь
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v16-1124
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\33282

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Работа посвящена исследованию особенностей топографии поверхности и локального энергетического спектра четырехслойного графена, помещенного на двумерную матрицу из пирамид GaN, с помощью сканирующей туннельной спектроскопии и локальной туннельной спектроскопии. Такая структура моделирует использование графена в качестве проводящего прозрачного электрода в оптоэлектронике. Обнаружено провисание графена между соседними пирамидами, сделана оценка этого провисания - около 20% от высоты пирамид 1.1 мкм. Локальные туннельные спектры показывают изменение энергетического спектра графена из-за механических напряжений, появляющихся при провисании. Подтверждена перспективность использования графена в качестве электродов.

Features of the surface topography and the local energy spectrum of graphene placed on two-dimensional array of GaN pyramids are studied using scanning tunneling microscopy and local tunneling spectroscopy. This structure can be used as a test structure for using grapheme for a conducting transparent electrode in optoelectronics. The whipping of grapheme between pyramids is found and estimation of whipping value is made - about 20% from the pyramid height 1.1 μm. Local energy spectra show the change of grapheme energy spectrum due to mechanical stress at the whipping. Possibility of using grapheme as electrode is confirmed.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
External organizations N2 All Read
External organizations N1 All
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
Internet Authorized users (not from SPbPU, N2) Read
Internet Authorized users (not from SPbPU, N1)
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 1094
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics