Details

Title: Физико-химический анализ и эмиссионные свойства наноуглеродных полевых эмиттеров: магистерская диссертация: 16.04.01
Creators: Шкитун Павел Андреевич
Scientific adviser: Андронов Александр Николаевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2016
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: Автоэлектронная эмиссия; Эмиттеры; Углерод; Наноструктурные материалы; Плазменная обработка; Осаждение (хим. )
UDC: 537.533.2(043.3); 620.22-022.53(043.3); 539.23:553.924(043.3)
Document type: Master graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 16.04.01
Speciality group (FGOS): 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v16-2775
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Подтверждено наличие низковольтной полевой эмиссии у большинства образцов и существование зависимости эмиссионных свойств от типа и степени легирования кремниевой подложки. Установлено, что в подавляющем большинстве случаев электронная структура углеродных наноостровков соответствует sp2 гибридизации. Обнаружено, что эмиссионная эффективность тем выше, чем меньше содержание углерода в пленке. Показано, что на рыхлой грани, полученной срезом поверхности (100) кремния под углом 4о, растет наноостровковая структура в том случае, если подложка имеет низкую степень легирования. Показано, что причиной гистерезиса эмиссионных характеристик является исчезновение и возникновение эмиссионных центров под действием тока.

The capability of low-field electron emission has been confirmed for a majority of the tested samples, as well as correlation of emission properties with silicon substrate conductance type and doping level. In most cases, the electronic structure of carbon nanoislands comprising the films corresponded to sp2 hybridization of electron states. The highest emission capability was observed for sample with lower quantity of carbon. The possibility to grow a nanoisland structure at a very loosely packed crystalline facet produced by cutting an (100) silicon wafer at 4о angle has been demonstrated, provided that doping level of the substrate was low. The observed hysteresis of emission characteristics was explained by appearance and destruction of emission sites under the action of the extracted current.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 66
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics