Details

Title Влияние направления эпитаксиального роста тонких антисегнетоэлектрических пленок на температурную зависимость их параметров порядка: выпускная квалификационная работа бакалавра: 16.03.01 - Техническая физика ; 16.03.01_05 - Физическая электроника
Creators Иванова Мария Владимировна
Scientific adviser Бурковский Роман Георгиевич
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2018
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects цирконат свинца ; антисегнетоэлектрики ; температура Кюри ; динамика кристаллической решетки ; эпитаксиальный рост
Document type Bachelor graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Bachelor
Speciality code (FGOS) 16.03.01
Speciality group (FGOS) 160000 - Физико-технические науки и технологии
Links Отзыв руководителя
DOI 10.18720/SPBPU/2/v18-1082
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key RU\SPSTU\edoc\57583
Record create date 11/22/2018

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

В работе исследовались температурные зависимости интенсивностей сверхструктурных рефлексов для цирконата свинца с направлением эпитаксиального роста [111]. Для этого реализован метод дифракции рентгеновского излучения на пленках PbZrO3. На основании полученных экспериментов, построены реконструкции обратного пространства. Для всего исследуемого температурного диапазона от 400°С до 35°С были построены температурные зависимости интенсивностей сверхструктурных рефлексов. Сделаны выводы о различиях в характере фазовых переходов для пленок с различной ориентацией.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous

Access count: 109 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics