В работе рассматриваются физические основы методов рефрактометрии. Была разработана экспериментальная установка и подобраны параметры элементов для её реализации. Представлены предварительные результаты зависимости показателя преломления от времени, вольт-амперные характеристики, зависимость сопротивления от напряжения и динамика изменения сопротивления во времени. Полученные экспериментальные результаты показали эффективность использования метода рефрактометрии в режиме полного внутреннего отражения для определения оптико-физических свойств самоорганизующихся молекулярных пленок, в биомолекулярной электронике.