Детальная информация
| Название | Электронный парамагнитный резонанс в селениде ртути, легированном переходными металлами: выпускная квалификационная работа магистра: 11.04.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.04.04_01 - Микроэлектроника и наноэлектроника |
|---|---|
| Авторы | Фролов Дмитрий Александрович |
| Научный руководитель | Захарова Ирина Борисовна; Вейнгер А. И. |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2018 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция |
| Тематика | Электронный парамагнитный резонанс; Ртуть, селенид; Магнитное поле; Металлы переходные |
| УДК | 537.635:537.611.43 |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа магистра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Магистратура |
| Код специальности ФГОС | 11.04.04 |
| Группа специальностей ФГОС | 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи |
| Ссылки | Отзыв руководителя; Рецензия |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/v18-1820 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\53883 |
| Дата создания записи | 16.10.2018 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Целью данной работы является сравнительный анализ температурных и угловых зависимостей в спектрах электронного парамагнитного резонанса образцов HgSe:Fe, HgSe:CoиHgSe:Ni с различными концентрациями легирующей примеси. Были получены спектры электронного парамагнитного резонанса, значения энергии взаимодействия с полем кристаллической решётки и значенияg-фактора, выполнен анализ температурной зависимости амплитуды линий ЭПР и оценка времени диффузии носителей заряда через скин-слой. Сделаны выводы о степени ионизации примесных ионов.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 168
За последние 30 дней: 0
