Details
| Title | Исследование поверхности эмиссионно-активных тонкопленочных структур методами зондовой микроскопии и спектроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 16.03.01 - Техническая физика ; 16.03.01_10 - Физическая и биомедицинская электроника |
|---|---|
| Creators | Галкина Александра Вячеславовна |
| Scientific adviser | Габдуллин Павел Гарифович |
| Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Imprint | Санкт-Петербург, 2019 |
| Collection | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Subjects | сканирующая туннельная микроскопия ; полевая эмиссия ; тонкие пленки молибдена ; тонкие пленки углерода ; вольт-амперные характеристики туннельного контакта ; фотопроводимость ; scanning tunneling microscopy ; field emission ; thin films of molybdenum ; thin film of carbon ; current-voltage characteristics of a tunneling contact ; photoconductivity |
| Document type | Bachelor graduation qualification work |
| File type | |
| Language | Russian |
| Level of education | Bachelor |
| Speciality code (FGOS) | 16.03.01 |
| Speciality group (FGOS) | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| Links | Отзыв руководителя ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
| DOI | 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3147 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Record key | ru\spstu\vkr\2795 |
| Record create date | 10/4/2019 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
| Group | Anonymous |
|---|---|
| Network | Internet |
В ходе данной работы было проведено изучение топографии поверхности тонких углеродных пленок, а также тонких пленок молибдена. Для тонких пленок молибдена были получены вольт-амперные характеристики разных точках образца, была изучена фоточувствительность островковых структур образца. По данным вольт-амперных характеристик были рассчитаны туннельные спектры.
In the course of this work, surface topography of the thin carbon films and thin molybdenum films was investigated. For thin films of molybdenum, the volt-ampere characteristics of different points of the sample were obtained, and the photosensitivity of islet structures of the sample was studied. According to the current-voltage characteristics, calculations of tunneling spectra were performed.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | Authorized users SPbPU |
|
| Internet | Anonymous |
|
Access count: 46
Last 30 days: 0
