С 17 марта 2020 г. для образовательных ресурсов Электронной библиотеки СПбПУ установлен особый режим их использования

Details

Title: Исследование поверхности эмиссионно-активных тонкопленочных структур методами зондовой микроскопии и спектроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 16.03.01 - Техническая физика ; 16.03.01_10 - Физическая и биомедицинская электроника
Creators: Галкина Александра Вячеславовна
Scientific adviser: Габдуллин Павел Гарифович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: сканирующая туннельная микроскопия; полевая эмиссия; тонкие пленки молибдена; тонкие пленки углерода; вольт-амперные характеристики туннельного контакта; фотопроводимость; scanning tunneling microscopy; field emission; thin films of molybdenum; thin film of carbon; current-voltage characteristics of a tunneling contact; photoconductivity
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 16.03.01
Speciality group (FGOS): 160000 - Физико-технические науки и технологии
Links: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3147
Rights: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В ходе данной работы было проведено изучение топографии поверхности тонких углеродных пленок, а также тонких пленок молибдена. Для тонких пленок молибдена были получены вольт-амперные характеристики разных точках образца, была изучена фоточувствительность островковых структур образца. По данным вольт-амперных характеристик были рассчитаны туннельные спектры.

In the course of this work, surface topography of the thin carbon films and thin molybdenum films was investigated. For thin films of molybdenum, the volt-ampere characteristics of different points of the sample were obtained, and the photosensitivity of islet structures of the sample was studied. According to the current-voltage characteristics, calculations of tunneling spectra were performed.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Document usage statistics

stat Document access count: 36
Last 30 days: 2
Detailed usage statistics