Details

Title: Нелинейная динамика чувствительного элемента атомного силового микроскопа: выпускная квалификационная работа бакалавра: 15.03.03 - Прикладная механика ; 15.03.03_03 - Вычислительная механика и компьютерный инжиниринг
Creators: Удалов Павел Павлович
Scientific adviser: Привалова Ольга Васильевна
Other creators: Попов Иван Алексеевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт прикладной математики и механики
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: микроскопия; асимптотические методы; механика; метод многих масштабов; метод прямой атаки; периодические движения; субгармонический резонанс; microscopy; asymptotic methods; mechanics; multi-scales method; direct attack method; periodic movements; subharmonic resonance
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 15.03.03
Speciality group (FGOS): 150000 - Машиностроение
Links: Отзыв руководителя; Рецензия; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-4237
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В данной работе был рассмотрен принцип действия атомного силового микроскопа в контактном режиме при основном и субгармоническом резонансах. В процессе работы были получены аналитические зависимости, построенные с помощью метода многих масштабов, амплитуды и частоты колебаний чувствительного элемента атомного силового микроскопа от рельефа исследуемого образца. Так же было проведено сравнение аналитических и численных решений для собственных частот колебаний и АЧХ характеристики кантилевера в обоих случаях.

This paper was considered by the action principle of atomic force microscope in contact mode, when the principal and subharmonic resonances. In the course of work the analytical dependences were built using the multi-scale, amplitude and frequency of the sensitive element of the atomic force microscope from the topography of the sample. So was the comparison of analytical and numerical solutions for natural frequencies of oscillation and frequency-response characteristics of cantilever in both cases.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read
Internet Authorized users Read
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 13
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics