Зайцев, Никита Сергеевич. Структурные изменения тонкой аморфной пленки кремния при электронном облучении: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника» = Structural changes of the amorphous silicon thin film by electron irradiation / Н. С. Зайцев; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; научный руководитель О. А. Подсвиров ; консультант по нормоконтролю С. Н. Давыдов. — Санкт-Петербург, 2020. — 1 файл (0,7 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/vr20-1635.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/rev/vr20-1635-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/rev/vr20-1635-a.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-1635. — Текст