Таблица | Карточка | RUSMARC | |
Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Изучены низкотемпературные электрические свойства полупроводникового твердого раствора (Pb0.4Sn0.6)0.8In0.2Te. Исследовались температурные и магнитополевые зависимости сопротивления поликристаллического соединения в интервале температур Т = 300 К – 1.3 К и магнитных полей до 10 кЭ. Установлены критические параметры сверхпроводящего состояния (Pb0.4Sn0.6)0.8In0.2Te температура Тс = 3.99 К и второе критическое магнитное поле, экстраполированное к Т = 0 К Hc2(0) ~ 28 кЭ. Анализ полученных результатов проводился в модели примесной полосы индия с высокой плотностью состояний на фоне сплошного спектра валентной зоны твердого раствора PbTe – SnTe. Изучение материалов данного класса представляет интерес как с точки зрения фундаментальных исследований, так и для использования их в качестве элементной базы криогенной электроники.
The low-temperature electrical properties of a semiconductor solid solution (Pb0.4Sn0.6)0.8In0.2Te. were studied. The temperature and magnetic field dependences of the resistance of the polycrystalline sample were studied in the temperature range Т = 300 К – 1.3 К and magnetic fields less than 10 кOe. The critical parameters of the superconducting state were found in (Pb0.4Sn0.6)0.8In0.2Te, these being the critical temperature Tc = 3.99 K and the second critical magnetic field extrapolated to T = 0 K Hc2(0) ~ 28 kOe. The obtained results were analyzed in the model of an indium impurity band with a high density of states on the background of the continuous spectrum of the valence band of the PbTe - SnTe solid solutions system. The study of materials of this class is of interest in terms of basic research, and for using them as an element base of cryogenic electronics.
Права на использование объекта хранения
Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
![]() ![]() ![]() |
||||
Внешние организации №2 | Все |
![]() |
||||
Внешние организации №1 | Все | |||||
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
![]() ![]() ![]() |
||||
Интернет | Авторизованные пользователи (не СПбПУ, №2) |
![]() |
||||
Интернет | Авторизованные пользователи (не СПбПУ, №1) | |||||
![]() |
Интернет | Анонимные пользователи |
Статистика использования
|
Количество обращений: 4
За последние 30 дней: 0 Подробная статистика |