Детальная информация

Название: Рентгеновская наноскопия как инструмент изучения нанодоменных конфигураций в тонкопленочных структурах: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника»
Авторы: Флорес Гонсалес Хамиль Эдуардо
Научный руководитель: Бурковский Роман Георгиевич
Другие авторы: Давыдов Сергей Николаевич
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2020
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: антисегнетоэлектричество; сегнетоэлектричество; цирконат свинца; сегнетоэлектрические домены; синхротронное излучение; рентгеновская наноскопия; тонкопленочных структурах; antiferroelectrics; ferroelectrics; lead zirconate; ferroelectric domains; synchrotron radiation; x-ray nanoscopy; thin-films
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 16.03.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
Ссылки: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2001
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Работа направлена на развитие дифракции синхротронного излучения как инструмента изучения нанодоменных конфигураций в тонкопленочных структурах цирконата свинца. Метод, описанный в этой работе, показал свою результативность в вопросе идентификации нанодеформаций, которые оказывают большое влияние на функциональное поведение материала и форму доменов.

The work aims to the development of diffraction of synchrotron radiation as a technique for nanoscopic analysis of domain mechanisms within thin films of lead zirconate. The method described in this work showed its capability of identifying the nanodeformations, which represent a great influence on the functional behavior of the material, on the shape of the domains.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 3
За последние 30 дней: 2
Подробная статистика