Детальная информация
| Название | Рентгеновская наноскопия как инструмент изучения нанодоменных конфигураций в тонкопленочных структурах: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника» |
|---|---|
| Авторы | Флорес Гонсалес Хамиль Эдуардо |
| Научный руководитель | Бурковский Роман Георгиевич |
| Другие авторы | Давыдов Сергей Николаевич |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2020 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Тематика | антисегнетоэлектричество ; сегнетоэлектричество ; цирконат свинца ; сегнетоэлектрические домены ; синхротронное излучение ; рентгеновская наноскопия ; тонкопленочных структурах ; antiferroelectrics ; ferroelectrics ; lead zirconate ; ferroelectric domains ; synchrotron radiation ; x-ray nanoscopy ; thin-films |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа бакалавра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Бакалавриат |
| Код специальности ФГОС | 16.03.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| Ссылки | Отзыв руководителя ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
| DOI | 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2001 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | ru\spstu\vkr\8397 |
| Дата создания записи | 31.07.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Работа направлена на развитие дифракции синхротронного излучения как инструмента изучения нанодоменных конфигураций в тонкопленочных структурах цирконата свинца. Метод, описанный в этой работе, показал свою результативность в вопросе идентификации нанодеформаций, которые оказывают большое влияние на функциональное поведение материала и форму доменов.
The work aims to the development of diffraction of synchrotron radiation as a technique for nanoscopic analysis of domain mechanisms within thin films of lead zirconate. The method described in this work showed its capability of identifying the nanodeformations, which represent a great influence on the functional behavior of the material, on the shape of the domains.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 29
За последние 30 дней: 0
