Флорес Гонсалес, Хамиль Эдуардо. Рентгеновская наноскопия как инструмент изучения нанодоменных конфигураций в тонкопленочных структурах = X-ray nanoscopy as a tool for studying nanodomain configurations in thin-film structures: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника» / Х. Флорес Гонсалес; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; научный руководитель Р. Г. Бурковский ; консультант по нормоконтролю С. Н. Давыдов. — Санкт-Петербург, 2020 — 1 файл (1,1 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/vr20-2001.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/rev/vr20-2001-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/rev/vr20-2001-a.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2001. — Текст