Детальная информация

Название: Изучение индуцированных полем структур в пленках PbZrO3 методом in-situ дифракции: выпускная квалификационная работа магистра: направление 16.04.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.04.01_02 «Физика структур пониженной размерности»
Авторы: Ганжа Александр Евгеньевич
Научный руководитель: Бурковский Роман Георгиевич
Другие авторы: Мелентьев Григорий Александрович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2020
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: антисегнетоэлектрики; цирконат свинца; рассеяние рентгеновского излучения; фазовые переходы; тонкие пленки; промежуточная фаза; размытие фазового перехода; antiferroelectrics; lead zirconate; X-ray scattering; phase transitions; thin films; intermediate phase; phase transition smearing
Тип документа: Выпускная квалификационная работа магистра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 16.04.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
Ссылки: Отзыв руководителя; Рецензия; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2554
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Данная работа посвящена установлению причин явления размытия фазовых переходов на примере тонкопленочной гетероструктуре PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 ориентированной по (001). В процессе работы обнаружена новая структура, полный период модуляции которой состоит из восьми слоев, упорядоченных как ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ и разработана минимальная модель, объясняющую природу этой структуры.

The purpose of this paper is to establishing the causes of the smearing of phase transitions using the thin-film PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 (001) oriented heterostructure. In the process, a new structure was discovered, the full modulation period of which consists of eight layers arranged as ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ and a minimal model has been developed to explain the nature of this structure.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 3
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика