Детальная информация
| Название | Изучение индуцированных полем структур в пленках PbZrO3 методом in-situ дифракции: выпускная квалификационная работа магистра: направление 16.04.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.04.01_02 «Физика структур пониженной размерности» |
|---|---|
| Авторы | Ганжа Александр Евгеньевич |
| Научный руководитель | Бурковский Роман Георгиевич |
| Другие авторы | Мелентьев Григорий Александрович |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2020 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Тематика | антисегнетоэлектрики ; цирконат свинца ; рассеяние рентгеновского излучения ; фазовые переходы ; тонкие пленки ; промежуточная фаза ; размытие фазового перехода ; antiferroelectrics ; lead zirconate ; X-ray scattering ; phase transitions ; thin films ; intermediate phase ; phase transition smearing |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа магистра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Магистратура |
| Код специальности ФГОС | 16.04.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| Ссылки | Отзыв руководителя ; Рецензия ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
| DOI | 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2554 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | ru\spstu\vkr\7356 |
| Дата создания записи | 23.07.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Данная работа посвящена установлению причин явления размытия фазовых переходов на примере тонкопленочной гетероструктуре PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 ориентированной по (001). В процессе работы обнаружена новая структура, полный период модуляции которой состоит из восьми слоев, упорядоченных как ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ и разработана минимальная модель, объясняющую природу этой структуры.
The purpose of this paper is to establishing the causes of the smearing of phase transitions using the thin-film PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 (001) oriented heterostructure. In the process, a new structure was discovered, the full modulation period of which consists of eight layers arranged as ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ and a minimal model has been developed to explain the nature of this structure.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 35
За последние 30 дней: 0
