Details
Title | Изучение индуцированных полем структур в пленках PbZrO3 методом in-situ дифракции: выпускная квалификационная работа магистра: направление 16.04.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.04.01_02 «Физика структур пониженной размерности» |
---|---|
Creators | Ганжа Александр Евгеньевич |
Scientific adviser | Бурковский Роман Георгиевич |
Other creators | Мелентьев Григорий Александрович |
Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
Imprint | Санкт-Петербург, 2020 |
Collection | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
Subjects | антисегнетоэлектрики ; цирконат свинца ; рассеяние рентгеновского излучения ; фазовые переходы ; тонкие пленки ; промежуточная фаза ; размытие фазового перехода ; antiferroelectrics ; lead zirconate ; X-ray scattering ; phase transitions ; thin films ; intermediate phase ; phase transition smearing |
Document type | Master graduation qualification work |
File type | |
Language | Russian |
Level of education | Master |
Speciality code (FGOS) | 16.04.01 |
Speciality group (FGOS) | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
Links | Отзыв руководителя ; Рецензия ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
DOI | 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2554 |
Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Record key | ru\spstu\vkr\7356 |
Record create date | 7/23/2020 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group | Anonymous |
---|---|
Network | Internet |
Данная работа посвящена установлению причин явления размытия фазовых переходов на примере тонкопленочной гетероструктуре PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 ориентированной по (001). В процессе работы обнаружена новая структура, полный период модуляции которой состоит из восьми слоев, упорядоченных как ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ и разработана минимальная модель, объясняющую природу этой структуры.
The purpose of this paper is to establishing the causes of the smearing of phase transitions using the thin-film PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 (001) oriented heterostructure. In the process, a new structure was discovered, the full modulation period of which consists of eight layers arranged as ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ and a minimal model has been developed to explain the nature of this structure.
Network | User group | Action |
---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All |
|
Internet | Authorized users SPbPU |
|
Internet | Anonymous |
|
Access count: 35
Last 30 days: 0