Details

Title Изучение индуцированных полем структур в пленках PbZrO3 методом in-situ дифракции: выпускная квалификационная работа магистра: направление 16.04.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.04.01_02 «Физика структур пониженной размерности»
Creators Ганжа Александр Евгеньевич
Scientific adviser Бурковский Роман Георгиевич
Other creators Мелентьев Григорий Александрович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2020
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects антисегнетоэлектрики ; цирконат свинца ; рассеяние рентгеновского излучения ; фазовые переходы ; тонкие пленки ; промежуточная фаза ; размытие фазового перехода ; antiferroelectrics ; lead zirconate ; X-ray scattering ; phase transitions ; thin films ; intermediate phase ; phase transition smearing
Document type Master graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Master
Speciality code (FGOS) 16.04.01
Speciality group (FGOS) 160000 - Физико-технические науки и технологии
Links Отзыв руководителя ; Рецензия ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-2554
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key ru\spstu\vkr\7356
Record create date 7/23/2020

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Данная работа посвящена установлению причин явления размытия фазовых переходов на примере тонкопленочной гетероструктуре PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 ориентированной по (001). В процессе работы обнаружена новая структура, полный период модуляции которой состоит из восьми слоев, упорядоченных как ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ и разработана минимальная модель, объясняющую природу этой структуры.

The purpose of this paper is to establishing the causes of the smearing of phase transitions using the thin-film PbZrO3/SrRuO3/SrTiO3 (001) oriented heterostructure. In the process, a new structure was discovered, the full modulation period of which consists of eight layers arranged as ↑↑↑↑ ↓↑↑↓ and a minimal model has been developed to explain the nature of this structure.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous

Access count: 35 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics