Вдовин, Никита Денисович. Совершенствование конструкции и методики использования измерительного комплекса для определения статических параметров полупроводникового чипа на пластине: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 11.03.02 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» ; образовательная программа 11.03.02_04 «Защищенные системы и сети связи» = Improving the design and methods of using the measuring complex to determine the static parameters of a semiconductor chip on a wafer / Н. Д. Вдовин; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций; научный руководитель А. М. Митрофанов. — Санкт-Петербург, 2020. — 1 файл (2,0 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/vr20-524.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-524. — Текст: электронный