Тема выпускной квалификационной работы: «Исследование алгоритмов визуализации интерференции в тонких пленках». Данная работа посвящена разработке и реализация ряда моделей для визуализации эффекта интерференции в тонких пленках: - физически корректная визуализация с использованием алгоритма трассировки лучей; - визуализация в приложениях реального времени. В качестве основной демонстрационной сцены используется совокупность простых трехмерных геометрических объектов. Весь исходный код проектов написан на языке C++ с применением графической библиотеки DirectX 11. Средством для программирования шейдеров является HLSL. Наиболее значимым результатом является разработка физически корректного алгоритма трассировки лучей с применением некоторых свойств волновой оптики. В рамках этого алгоритма был реализован алгоритм вычисления цвета из спектральной плотности излучения в каждой видимой точке сцены. Кроме того, значимая часть исследования посвящена построению модели, симулирующей эффект интерференции в тонких пленках в реальном времени. Все предложенные модели пригодны для применения в графических приложениях соответствующего типа и могут быть развиты в дальнейшем для получения  более корректных результатов.

The subject of the bachelor thesis is “Research in thin film interference visualization algorithms”. The work aims to develop and implement several models for the visualization of thin film interference effect: - physically-based rendering using ray tracing algorithm; - real-time rendering. Main demonstration scene is set of simple geometric shapes. All source code of projects is written in C++ using the DirectX 11 graphics library. HLSL is used for shaders code. The most significant discovery is a physically-based ray tracing algorithm using some properties of wave optics. As part of this algorithm, an algorithm for calculating color from the spectral power distribution at each visible point of the scene was developed. In addition, a significant part of the research is devoted to building a model that simulates the effect of interference in thin films in real time. All proposed models are suitable for use in graphic applications of the appropriate type and can be further developed to obtain more correct results.