Details

Title Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия эмиссионно-активных наноструктур на поверхности кремния: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника»
Creators Цедилин Михаил Игоревич
Scientific adviser Габдуллин Павел Гарифович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2023
Collection Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects туннельная микроскопия; эмиссионно активные наноструктуры; СТМ; СТС; tunneling microscopy; emission-active nanostructures; STM; STS
Document type Bachelor graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Bachelor
Speciality code (FGOS) 16.03.01
Speciality group (FGOS) 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI 10.18720/SPBPU/3/2023/vr/vr23-4085
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key ru\spstu\vkr\23836
Record create date 7/27/2023

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Объект исследования  – Эмиссионно активные наноструктуры, выращенные на поверхности кремния. Цель работы  –  Исследование эмиссионно активных наноструктур методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии. Исследования проводились на сканирующем туннельном микроскопе СММ 2000 ВАК, размещенном в вакуумной камере. Данное оборудование позволяет, помимо получения профиля поверхности исследуемых объектов получать данные о локальной электронной структуре. Получаемая таким методом информация позволяет прояснить особенности эмиссионных характеристик изучаемых объектов.

The object of the study is an emissivity active nanostructures grown on a silicon surface. The aim of the work is investigation of emission-active nanostructures by tunneling microscopy and tunneling spectroscopy. The studies were carried out on a scanning tunneling microscope СММ 2000 ВАК, placed in a vacuum chamber. This equipment allows, in addition to obtaining the surface profile of the studied objects, to obtain data on the local electronic structure. The information obtained by this method makes it possible to clarify the features of the emission characteristics of the studied objects.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous

Access count: 4 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics