Details

Объектом исследования является кремниевая фотодиодная пластина. Цель работы – разработка комплексного метода контроля качества диодной сетки кремниевой мишени и модернизация экспериментальной установки для ее реализации. В ходе данного исследования был рассмотрен ряд проблем, возникающих при идентификации объектов в условиях плохой видимости, подробно изучены методы контроля качества кремниевых пластин, использующихся в приборах ночного видения. Обоснована необходимость улучшения технических характеристик приборов ночного видения с фото приемными устройствами на основе кремния со смещенной красной границей в ближний ИК диапазон. В результате получена комплексная методика контроля качества диодной сетки кремниевых пластин, реализованная на предложенном экспериментальном стенде. Создана шкала качества произведенной продукции, основанная на показателях спектральной чувствительности. Данная разработка актуальна как для улучшения характеристик приборов ночного видения, так и для сооружений военного назначения. Использовались открытые образовательные ресурсы и программы поиска и анализа информации. В качестве средств автоматизации разработки использовались компьютерные программы для расчета характеристик кремниевых фотопластин, такие как пакет Matlab.

The object of study is a silicon photodiode plate. The aim of this work is to develop a comprehensive method for quality control of the diode grid of a silicon target and to modernize the experimental setup for its implementation. During this study, several problems that arise when identifying objects in conditions of poor visibility were considered, methods for controlling the quality of silicon wafers used in night vision devices were studied in detail. The necessity of improving the technical characteristics of night vision devices with silicon–based photodetectors with a shifted red border to the near–IR range is substantiated. As a result, a comprehensive method for quality control of the diode grid of silicon wafers was obtained, implemented on the proposed experimental stand. This development is relevant both for improving the performance of night vision devices and for military facilities. Open educational resources and programs for searching and analyzing information were used. Computer programs for calculating the characteristics of silicon photographic wafers, such as the Matlab package, were used as development automation tools.