Details
Title | Влияние температуры на функции распределения пробивных напряжений пленок полиэтилентерефталата: выпускная квалификационная работа магистра: направление 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» ; образовательная программа 11.04.04_06 «Наноэлектроника и микроэлектромеханические системы» |
---|---|
Creators | Ян Цзин |
Scientific adviser | Сударь Николай Тобисович |
Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций |
Imprint | Санкт-Петербург, 2022 |
Collection | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
Subjects | Диэлектрики — Пробой ; распределение вейбулла ; старение ; эмпирическое распределение ; Weibull distribution ; aging ; empirical distribution |
UDC | 621.315.61.015.51 |
Document type | Master graduation qualification work |
File type | |
Language | Russian |
Level of education | Master |
Speciality code (FGOS) | 11.04.04 |
Speciality group (FGOS) | 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи |
DOI | 10.18720/SPBPU/3/2023/vr/vr23-787 |
Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
Record key | ru\spstu\vkr\20841 |
Record create date | 4/3/2023 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Group | Anonymous |
---|---|
Network | Internet |
Выполнено исследование влияния температуры на функции распределения пробивных напряжений пленки полиэтилентерефталата (ПЭТФ) толщиной 3 мкм в диапазоне температур от 30 до 110 оС. Установлено, что во всем исследованном температурном диапазоне на каждой ФР Uпр можно выделить три характерные области, соответствующие различным типам дефектов пленки ответственным за электрический пробой. Показано, что в области средних значений напряжений для оценки электрической прочности пленки можно использовать представление о наиболее вероятном пробивном напряжении, соответствующем максимуму плотности вероятности пробоя пленки на этом участке. Установлено, что в исследованном диапазоне температур наиболее вероятное пробивное напряжение пленки ПЭТФ практически не зависит от температуры.
The influence of temperature on the breakdown voltage distribution functions of a polyethylene terephthalate (PET) film with a thickness of 3 µm was studied in the temperature range from 30 to 110°C. It has been established that, in the entire temperature range studied, three characteristic regions can be distinguished on each PR Ur, corresponding to different types of film defects responsible for electrical breakdown. It is shown that in the range of medium voltages, the electrical strength of the film can be estimated using the concept of the most probable breakdown voltage, which corresponds to the maximum probability density of the breakdown of the film in this section. It has been established that in the studied temperature range, the most probable breakdown voltage of a PET film is practically independent of temperature.
Network | User group | Action |
---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All |
|
Internet | Authorized users SPbPU |
|
Internet | Anonymous |
|
Access count: 6
Last 30 days: 0