Details

Title Влияние температуры на функции распределения пробивных напряжений пленок полиэтилентерефталата: выпускная квалификационная работа магистра: направление 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» ; образовательная программа 11.04.04_06 «Наноэлектроника и микроэлектромеханические системы»
Creators Ян Цзин
Scientific adviser Сударь Николай Тобисович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2022
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects Диэлектрики — Пробой ; распределение вейбулла ; старение ; эмпирическое распределение ; Weibull distribution ; aging ; empirical distribution
UDC 621.315.61.015.51
Document type Master graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Master
Speciality code (FGOS) 11.04.04
Speciality group (FGOS) 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI 10.18720/SPBPU/3/2023/vr/vr23-787
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key ru\spstu\vkr\20841
Record create date 4/3/2023

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Выполнено исследование влияния температуры на функции распределения пробивных напряжений пленки полиэтилентерефталата (ПЭТФ) толщиной 3 мкм в диапазоне температур от 30 до 110 оС. Установлено, что во всем исследованном температурном диапазоне на каждой ФР Uпр можно выделить три характерные области, соответствующие различным типам дефектов пленки ответственным за электрический пробой. Показано, что в области средних значений напряжений для оценки электрической прочности пленки можно использовать представление о наиболее вероятном пробивном напряжении, соответствующем максимуму плотности вероятности пробоя пленки на этом участке. Установлено, что в исследованном диапазоне температур наиболее вероятное пробивное напряжение пленки ПЭТФ практически не зависит от температуры.

The influence of temperature on the breakdown voltage distribution functions of a polyethylene terephthalate (PET) film with a thickness of 3 µm was studied in the temperature range from 30 to 110°C. It has been established that, in the entire temperature range studied, three characteristic regions can be distinguished on each PR Ur, corresponding to different types of film defects responsible for electrical breakdown. It is shown that in the range of medium voltages, the electrical strength of the film can be estimated using the concept of the most probable breakdown voltage, which corresponds to the maximum probability density of the breakdown of the film in this section. It has been established that in the studied temperature range, the most probable breakdown voltage of a PET film is practically independent of temperature.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read
Internet Authorized users SPbPU
Read
Internet Anonymous

Access count: 6 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics