Details
Title | Анализ технического уровня современных многослойных керамических чип-конденсаторов: выпускная квалификационная работа магистра: направление 13.04.02 «Электроэнергетика и электротехника» ; образовательная программа 13.04.02_26 «Инжиниринг электротехнических материалов и систем» |
---|---|
Creators | Сорокин Илья Андреевич |
Scientific adviser | Феклистов Ефрем Геннадьевич |
Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт энергетики |
Imprint | Санкт-Петербург, 2024 |
Collection | Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция |
Subjects | Конденсаторы; технический уровень; показатели качества продукции; патентный анализ; technical level; product quality indicators; patent analysis |
UDC | 621.5.044; 621.377.622.323 |
Document type | Master graduation qualification work |
File type | |
Language | Russian |
Level of education | Master |
Speciality code (FGOS) | 13.04.02 |
Speciality group (FGOS) | 130000 - Электро- и теплоэнергетика |
DOI | 10.18720/SPBPU/3/2024/vr/vr24-4303 |
Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Record key | ru\spstu\vkr\32479 |
Record create date | 8/28/2024 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group | Anonymous |
---|---|
Network | Internet |
Объектом исследования является многослойный керамический чип-конденсатор. Цель работы – определение технического уровня современных многослойных керамических чип-конденсаторов общего назначения. При оценке технического уровня основное внимание уделялось показателям назначения, характеризующим основные свойства многослойных керамических чип-конденсаторов, а именно: номинальным емкости, напряжению и температурной стабильности. Предварительно в первой главе работы были освещены основные варианты конструкций многослойных керамических конденсаторов, типы рабочего диэлектрика, а также особенности технологии производства. На основе анализа трендов рыночного спроса за последние двадцать лет были определены актуальные типоразмеры чип-конденсаторов поверхностного монтажа, а именно 0201 и 0402 по классификации EIA. Кроме того, были определены крупнейшие мировые производители многослойных керамических чип-конденсаторов. В итоге была получена детальная картина по каждому из производителей: наличие многослойных керамических чип-конденсаторов типоразмера 0201 различных групп термостабильности, различных емкостей, напряжений. На основе данной информации был произведён сравнительный анализ по показателям назначения. Также в работе были проанализированы патенты выделенных производителей за последние 20 лет с целью выявления тенденций развития разработок в области повышения характеристик многослойных конденсаторов и их надёжности.
The object of study is a multilayer ceramic chip capacitor. The purpose of the work is to determine the technical level of modern multilayer ceramic chip capacitors of general purposes. When assessing the technical level, the main attention was paid to the purpose indicators characterizing the main properties of multilayer ceramic chip capacitors, namely: capacitance, operating voltage, and temperature coefficient of capacitance. Previously, in the first chapter of the work, the main design options for multilayer ceramic capacitors, types of operating dielectric, as well as features of production technology were highlighted. Based on an analysis of market demand trends over the past twenty years, the current standard case sizes of surface-mount chip capacitors were determined, namely 0201 and 0402 according to the EIA classification. In addition, the worlds largest manufacturers of multilayer ceramic chip capacitors were identified. As a result, a detailed picture was obtained for each of the manufacturers: the presence of multilayer ceramic chip capacitors of standard size 0201 of various thermal stability groups, different capacitances, and voltages. Based on this information, a comparative analysis of destination indicators was carried out. The work also analyzed the patents of selected manufacturers over the past 20 years to identify development trends in the field of improving the characteristics of multilayer capacitors and their reliability.
Network | User group | Action |
---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All |
|
Internet | Authorized users SPbPU |
|
Internet | Anonymous |
|
Access count: 5
Last 30 days: 1