Details

В ходе проведённого исследования было установлено, что поверхность детектора анизотропна, что вносит искажения в дифракционные данные. Для компенсации этих искажений были разработаны статичные маски коррекции для каждого положения детектора для этого использована прикладная программа MATLAB. Это позволило значительно повысить точность и надёжность дифракционного анализа. Разработанная методика отличается новизной в части применения индивидуальных коррекционных масок, что делает возможным более точное изучение физических свойств материалов. Особенно это актуально для лабораторий, которые не имеют специального оборудования для снятия порошкограмм, где требуется высокая точность в определении структурных особенностей дифракционных колец. Область применения результатов исследования включает научные лаборатории и промышленные предприятия, занимающиеся разработкой и исследованием новых материалов, где разработанные маски могут использоваться для улучшения диагностики. Таким образом, данная работа не только улучшает понимание взаимодействия анизотропных искажений с дифракционными процессами, но и открывает новые возможности для практического применения в материаловедении и смежных областях.

During this study, it was established that the surface of the detector is anisotropic, which introduces distortions into the diffraction data. To compensate for these distortions, specialized displacement masks were developed for each detector position using the MATLAB software application. This significantly increased the accuracy and reliability of the diffraction analysis. The developed methodology is novel in its application of individual correction masks, enabling more precise study of the physical properties of materials. This is particularly relevant for laboratories that lack specialized equipment for taking powder diffraction patterns and require high precision in determining the structural features of diffraction rings. The application area of the research results includes scientific laboratories and industrial enterprises engaged in the development and study of new materials. The developed masks can be used to improve diagnostics. Thus, this work not only improves the understanding of the interaction between anisotropic distortions and diffraction processes but also opens new possibilities for practical application in materials science and related fields.