Объект исследования – источник ионов квадрупольного фильтра масс. Цель работы – моделирование и оптимизация источника ионов квадрупольного фильтра масс. Данная работа посвящена оптимизации системы, состоящей из квадрупольного фильтра масс, ионного источника с электронным ударом и электростатических линз, посредством компьютерного моделирования.  Было рассмотрено пропускание пучков ионов с различными начальными условиями. Для увеличения пропускающей способности было решено оптимизировать систему за счет изменения потенциала линз. Использована прикладная программа Simion.

Object of study – ion source of quadrupole mass filter. Purpose of work – modeling and optimization of the ion source of quadrupole mass filter. This work is dedicated to optimization of the system consisting of a quadrupole mass filter, electron impact ion source and electrostatic lenses, using computer modeling. The passage of ion beams with different initial conditions was considered. To increase the transmission efficiency, it was decided to optimize the system by changing the potential of the lenses. The Simion application program was used.

• ГЛАВА 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
  • 1 Масс-спектрометрия
    • 1.1.1 Квадрупольный масс-спектрометр.
    • 1.1.2. Квадрупольный масс-спектрометр с префильтром
  • 1.2 Источник ионов с электронным ударом
  • 1.3 Аксептанс и эммитанс
  • 1.4 Цель и задачи исследования
• ГЛАВА 2. МОДЕЛИРОВАНИЕ
  • 2.1 Методика выполнения работы
  • 2.2 Моделирование движения ионного пучка
    • 2.2.1 Построение модели источника ионов с электронным ударом
    • 2.2.3 Параметры ионного пучка
  • 2.3 Результат моделирования
• ГЛАВА 3. ОПТИМИЗАЦИЯ МОДЕЛИРУЕМОЙ СИСТЕМЫ
  • 3.1 Моделирование оптимизированной системы
• ЗАКЛЮЧЕНИЕ
• СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ