Details

Выпускная квалификационная работа посвящена анализу влияния геометрических искажений пиков дифракции при текстурном анализе. Для реализации поставленной задачи был выполнен комплекс экспериментальных и аналитических исследований, проведено детальное изучение методики рентгеноструктурного анализа с последующей ее адаптацией к условиям текстурных измерений, особое внимание уделено современным подходам описания текстурных характеристик материалов. В процессе работы осуществлено освоение экспериментального оборудования, включая рентгеновский и текстурный дифрактометры, функциональных возможностей программного пакета МТЕХ и ПО OriginPro для обработки дифракционных данных. Полученные экспериментальные данные подвергались многокритериальному анализу с применением различных методов обработки. В ходе работы были получены зависимости интегральной интенсивности от угла наклона.

This graduation thesis is devoted to the analysis of the influence of geometric distortions of diffraction peaks in texture analysis. To achieve this goal, a series of experimental and analytical studies was conducted, including a detailed examination of X-ray structural analysis methodology followed by its adaptation to texture measurement conditions. Special attention was paid to modern approaches for describing material texture characteristics. During the research, experimental equipment was mastered, including X-ray and texture diffractometers, as well as the functional capabilities of the MTEX software package and OriginPro for processing diffraction data. The obtained experimental data underwent multicriteria analysis using various processing methods. The study established dependencies of integral intensity on the tilt angle.