Смирнов, Иван Андреевич. Исследование пленочных структур О-Yb-Si(111) с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_12 «Физика и нанотехнологии смарт-материалов» = The study of O-Yb-Si(111) film structures using X-ray photoelectron spectroscopy / И. А. Смирнов; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт электроники и телекоммуникаций; научный руководитель П. Ю. Ванина; научный руководитель М. В. Кузьмин. — Санкт-Петербург, 2025. — 1 файл (2,3 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2025/vr/vr25-5285.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2025/vr/vr25-5285. — Текст: электронный
| Период | Чтение | Печать | Копирование | Открытие | Итого |
|---|---|---|---|---|---|
| Вчера | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 30 дней | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 365 дней | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| За все время | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |