Характеризация объемных и тонкопленочных материалов с использованием дифрактометрической системы SuperNova: учебное пособие / А. Е. Ганжа, С. А. Удовенко, А. Ф. Вакуленко [и др.]; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Санкт-Петербург, 2022. — 1 файл (1,94 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/dl/5/tr/2022/tr22-85.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/5/tr22-85. — Текст: электронный
|
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
|
Вчера
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
|
Последние 30 дней
|
2
|
0
|
12
|
0
|
14
|
|
Последние 365 дней
|
34
|
2
|
84
|
0
|
120
|
|
За все время
|
92
|
2
|
129
|
0
|
223
|
