Характеризация объемных и тонкопленочных материалов с использованием дифрактометрической системы SuperNova: учебное пособие / А. Е. Ганжа, С. А. Удовенко, А. Ф. Вакуленко [и др.]; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Санкт-Петербург, 2022. — 1 файл (1,94 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/dl/5/tr/2022/tr22-85.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/5/tr22-85. — Текст: электронный
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Yesterday
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Last 30 days
|
3
|
0
|
7
|
0
|
10
|
|
Last 365 days
|
34
|
2
|
83
|
0
|
119
|
|
All time
|
93
|
2
|
130
|
0
|
225
|
