Вход в систему
Инструкция по поиску

Детальная информация

Название Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов. Сканирующая зондовая микроскопия: учебное пособие
Авторы Афанасьева Елена Владимировна ; Спешилова Анастасия Борисовна ; Шахмин Александр Львович
Организация Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Выходные сведения Санкт-Петербург, 2026
Коллекция Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция
Тематика Микроскопия ; сканирующая зондовая микроскопия ; диагностика ; наночастицы ; наноматериалы ; учебники и пособия для вузов
УДК 681.723(075.8)
Тип документа Учебник
Язык Русский
Код специальности ФГОС 28.03.01
Группа специальностей ФГОС 280000 - Нанотехнологии и наноматериалы
DOI 10.18720/SPBPU/5/tr26-102
Права доступа Доступ из локальной сети ФБ СПбПУ (чтение, печать)
Дополнительно Новинка
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\78877
Дата создания записи 15.05.2026

Разрешенные действия

–

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

Учебное пособие пособие соответствует образовательному стандарту подготовки дипломированных специалистов по направлению бакалаврской подготовки 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника»: дисциплины «Зондовые методы исследования наноматериалов» и «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов» Второе издание учебного пособия существенно переработано. Оно включает в себя несколько новых разделов: ближнепольная оптическая микроскопия, тепловая микроскопия и плазмоника. В пособии рассмотрены основы сканирующей зондовой микроскопии. Описаны различные типы приборов, а также методики, применяемые в сканирующей зондовой микроскопии. Отдельной темой выделено рассмотрение различных способов модифицирования поверхности с помощью сканирующих зондовых микроскопов. Предназначено для бакалавров, изучающих дисциплины «Зондовые методы исследования наноматериалов» и «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Может также использоваться магистрами, обучающимися по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов».

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать
Интернет Анонимные пользователи
  • СОДЕРЖАНИЕ
  • СОКРАЩЕНИЯ
  • ВВЕДЕНИЕ
  • 1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ О СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПАХ
    • 1.1. Принцип работы сканирующих зондовых микроскопов
    • 1.2. Основные элементы, входящие в состав современных сканирующих зондовых микроскопов
      • 1.2.1. Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов
      • 1.2.2. Устройства прецизионного перемещения зонда и образца
      • 1.2.3. Защитные приспособления для зондовых микроскопов
    • 1.3. Формирование и обработка СЗМ изображений
    • 1.4. Методы восстановления СЗМ изображения поверхности
  • 2. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 2.1 Физические основы туннелирования
    • 2.2. Зонды для сканирующих туннельных микроскопов
    • 2.3. Режимы работы системы обратной связи в туннельном микроскопе
    • 2.4. Измерение локальной работы выхода с помощью СТМ
    • 2.5. Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта и туннельная спектроскопия
    • 2.6. Управление сканирующим туннельным микроскопом
    • 2.7. Основные особенности конструкций СТМ
  • 3. АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 3.1. Зондовые датчики атомно-силовых микроскопов
    • 3.2. Контактная атомно-силовая микроскопия
      • 3.2.1. Зависимость силы от расстояния между зондовым датчиком иобразцом
      • 3.2.2. Управление АСМ при работе кантилевера в контактном режиме
      • 3.2.3. Измерение распределения механических свойств поверхности образца
    • 3.3. Колебательные методики АСМ
      • 3.3.1. Бесконтактный режим колебаний кантилевера АСМ
    • 3.4. Электросиловая микроскопия
    • 3.5. Магнитно-силовая микроскопия
      • 3.5.1. Квазистатические методики МСМ
      • 3.5.2. Колебательные методики МСМ
    • 3.6. Управление АСМ, ЭСМ, МСМ (колебательные методики)
  • 4. СКИНИРУЮЩАЯ БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 4.1 Физические основы ближнепольной оптической микроскопии
    • 4.2. Зонды для СБОМ
    • 4.3. Спектроскопические методики СБОМ
      • 4.3.1. Флуоресцентные методы в СБОМ
      • 4.3.1. Методы комбинационного рассеяния в СБОМ
      • 4.3.2. Ближнепольные оптические методы исследования плазмонов
  • 5. ПРАКТИЧЕСКОЕ ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИУРЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ ДЛЯ СОЗДАНИЯ НАНОСТРУКТУР
    • 5.1. Процесс локального окисления
    • 5.2. Локальное испарение
    • 5.3. Локальное осаждение
    • 5.4. Манипулирование отдельными атомами и молекулами
    • 5.5. Создание локальных заряженных областей в окислах
    • 5.6. Наноразмерное плавление
    • 5.7. Использование ближнепольных методик для экспонирования фоторезистов
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
...