Login
Search manual

Details

Title Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов. Сканирующая зондовая микроскопия: учебное пособие
Creators Афанасьева Елена Владимировна ; Спешилова Анастасия Борисовна ; Шахмин Александр Львович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Imprint Санкт-Петербург, 2026
Collection Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция
Subjects Микроскопия ; сканирующая зондовая микроскопия ; диагностика ; наночастицы ; наноматериалы ; учебники и пособия для вузов
UDC 681.723(075.8)
Document type Tutorial
Language Russian
Speciality code (FGOS) 28.03.01
Speciality group (FGOS) 280000 - Нанотехнологии и наноматериалы
DOI 10.18720/SPBPU/5/tr26-102
Rights Доступ из локальной сети ФБ СПбПУ (чтение, печать)
Additionally New arrival
Record key RU\SPSTU\edoc\78877
Record create date 5/15/2026

Allowed Actions

–

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Учебное пособие пособие соответствует образовательному стандарту подготовки дипломированных специалистов по направлению бакалаврской подготовки 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника»: дисциплины «Зондовые методы исследования наноматериалов» и «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов» Второе издание учебного пособия существенно переработано. Оно включает в себя несколько новых разделов: ближнепольная оптическая микроскопия, тепловая микроскопия и плазмоника. В пособии рассмотрены основы сканирующей зондовой микроскопии. Описаны различные типы приборов, а также методики, применяемые в сканирующей зондовой микроскопии. Отдельной темой выделено рассмотрение различных способов модифицирования поверхности с помощью сканирующих зондовых микроскопов. Предназначено для бакалавров, изучающих дисциплины «Зондовые методы исследования наноматериалов» и «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Может также использоваться магистрами, обучающимися по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов».

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print
Internet Anonymous
  • СОДЕРЖАНИЕ
  • СОКРАЩЕНИЯ
  • ВВЕДЕНИЕ
  • 1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ О СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПАХ
    • 1.1. Принцип работы сканирующих зондовых микроскопов
    • 1.2. Основные элементы, входящие в состав современных сканирующих зондовых микроскопов
      • 1.2.1. Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов
      • 1.2.2. Устройства прецизионного перемещения зонда и образца
      • 1.2.3. Защитные приспособления для зондовых микроскопов
    • 1.3. Формирование и обработка СЗМ изображений
    • 1.4. Методы восстановления СЗМ изображения поверхности
  • 2. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 2.1 Физические основы туннелирования
    • 2.2. Зонды для сканирующих туннельных микроскопов
    • 2.3. Режимы работы системы обратной связи в туннельном микроскопе
    • 2.4. Измерение локальной работы выхода с помощью СТМ
    • 2.5. Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта и туннельная спектроскопия
    • 2.6. Управление сканирующим туннельным микроскопом
    • 2.7. Основные особенности конструкций СТМ
  • 3. АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 3.1. Зондовые датчики атомно-силовых микроскопов
    • 3.2. Контактная атомно-силовая микроскопия
      • 3.2.1. Зависимость силы от расстояния между зондовым датчиком иобразцом
      • 3.2.2. Управление АСМ при работе кантилевера в контактном режиме
      • 3.2.3. Измерение распределения механических свойств поверхности образца
    • 3.3. Колебательные методики АСМ
      • 3.3.1. Бесконтактный режим колебаний кантилевера АСМ
    • 3.4. Электросиловая микроскопия
    • 3.5. Магнитно-силовая микроскопия
      • 3.5.1. Квазистатические методики МСМ
      • 3.5.2. Колебательные методики МСМ
    • 3.6. Управление АСМ, ЭСМ, МСМ (колебательные методики)
  • 4. СКИНИРУЮЩАЯ БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    • 4.1 Физические основы ближнепольной оптической микроскопии
    • 4.2. Зонды для СБОМ
    • 4.3. Спектроскопические методики СБОМ
      • 4.3.1. Флуоресцентные методы в СБОМ
      • 4.3.1. Методы комбинационного рассеяния в СБОМ
      • 4.3.2. Ближнепольные оптические методы исследования плазмонов
  • 5. ПРАКТИЧЕСКОЕ ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИУРЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ ДЛЯ СОЗДАНИЯ НАНОСТРУКТУР
    • 5.1. Процесс локального окисления
    • 5.2. Локальное испарение
    • 5.3. Локальное осаждение
    • 5.4. Манипулирование отдельными атомами и молекулами
    • 5.5. Создание локальных заряженных областей в окислах
    • 5.6. Наноразмерное плавление
    • 5.7. Использование ближнепольных методик для экспонирования фоторезистов
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
...