Детальная информация
| Название | Методы контроля и анализа веществ: учебно-методическое пособие. Ч. 1. Общие вопросы рентгенографии материалов |
|---|---|
| Авторы | Андреева Валентина Дмитриевна |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2026 |
| Коллекция | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Тематика | Рентгенография ; Материаловедение ; Рентгеноструктурный анализ ; кристаллическая структура ; дифракция ; учебники и пособия для вузов |
| УДК | 620.22(075.8) ; 539.26(075.8) |
| Тип документа | Учебник |
| Язык | Русский |
| Код специальности ФГОС | 22.03.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 220000 - Технологии материалов |
| DOI | 10.18720/SPBPU/5/tr26-50 |
| Права доступа | Доступ из локальной сети ФБ СПбПУ (чтение, печать) |
| Дополнительно | Новинка |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\78586 |
| Дата создания записи | 03.04.2026 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Учебно-методическое пособие относится к области исследования материалов методами рентгеноструктурного анализа. Соответствует содержанию авторских курсов «Методы контроля и анализа веществ», «Методы структурного анализа» и «Рентгеновские методы». Богатый иллюстративный материал способствует лучшему усвоению студентами материала лекционного курса. Предназначено для бакалавров направлений «Металлургия», «Материаловедение и технологии материалов» и «Нанотехнологии и микросистемная техника». Может быть также полезно студентам и аспирантам других направлений подготовки, интересующимся методами исследования структуры и влиянием ее на свойства материалов. Пособие включает в себя следующие части: Часть 1 – Общие вопросы рентгенографии материалов; Часть 2 – Основные методы рентгеноструктурного анализа; Часть 3 – Специальные методы рентгеноструктурного анализа; Часть 4 – Электронная микроскопия материалов.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
- Содержание 1 части
- Рентгеновские лучи, их свойства и спектральный состав. Источники и детекторы
- Уравнения дифракции Вульфа-Брегга и Лауэ. Факторы (множители) интенсивности
- Обратное пространство. Построение Эвальда. Способы получения дифракционных картин
- Монокристальный рентгеновский эксперимент: метод Лауэ и метод вращения
- Метод порошка. Дифрактометрия. Устройства дифрактометра и пробоподготовка
Количество обращений: 1
За последние 30 дней: 1
