Details
| Title | Методы контроля и анализа веществ: учебно-методическое пособие. Ч. 1. Общие вопросы рентгенографии материалов |
|---|---|
| Creators | Андреева Валентина Дмитриевна |
| Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого |
| Imprint | Санкт-Петербург, 2026 |
| Collection | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Subjects | Рентгенография ; Материаловедение ; Рентгеноструктурный анализ ; кристаллическая структура ; дифракция ; учебники и пособия для вузов |
| UDC | 620.22(075.8) ; 539.26(075.8) |
| Document type | Tutorial |
| Language | Russian |
| Speciality code (FGOS) | 22.03.01 |
| Speciality group (FGOS) | 220000 - Технологии материалов |
| DOI | 10.18720/SPBPU/5/tr26-50 |
| Rights | Доступ из локальной сети ФБ СПбПУ (чтение, печать) |
| Additionally | New arrival |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\78586 |
| Record create date | 4/3/2026 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
| Group | Anonymous |
|---|---|
| Network | Internet |
Учебно-методическое пособие относится к области исследования материалов методами рентгеноструктурного анализа. Соответствует содержанию авторских курсов «Методы контроля и анализа веществ», «Методы структурного анализа» и «Рентгеновские методы». Богатый иллюстративный материал способствует лучшему усвоению студентами материала лекционного курса. Предназначено для бакалавров направлений «Металлургия», «Материаловедение и технологии материалов» и «Нанотехнологии и микросистемная техника». Может быть также полезно студентам и аспирантам других направлений подготовки, интересующимся методами исследования структуры и влиянием ее на свойства материалов. Пособие включает в себя следующие части: Часть 1 – Общие вопросы рентгенографии материалов; Часть 2 – Основные методы рентгеноструктурного анализа; Часть 3 – Специальные методы рентгеноструктурного анализа; Часть 4 – Электронная микроскопия материалов.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | Anonymous |
|
- Содержание 1 части
- Рентгеновские лучи, их свойства и спектральный состав. Источники и детекторы
- Уравнения дифракции Вульфа-Брегга и Лауэ. Факторы (множители) интенсивности
- Обратное пространство. Построение Эвальда. Способы получения дифракционных картин
- Монокристальный рентгеновский эксперимент: метод Лауэ и метод вращения
- Метод порошка. Дифрактометрия. Устройства дифрактометра и пробоподготовка
Access count: 1
Last 30 days: 1
