Детальная информация
| Название | Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 1. — С. 27-33 |
|---|---|
| Авторы | Будаговский И. А.; Кузовков Д. О.; Лазаренко П. И.; Смаев М. П. |
| Организация | "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023)", конференция |
| Выходные сведения | 2024 |
| Коллекция | Общая коллекция |
| Тематика | Физика; Физическая оптика; тонкие пленки; фемтосекундная модификация пленок; XZ-сканирование; лазерные модификации; фемтосекундные импульсы; аморфные халькогениды; оптическая микроскопия; лазерное излучение |
| УДК | 535.2/3 |
| ББК | 22.343 |
| Тип документа | Статья, доклад |
| Тип файла | Другой |
| Язык | Русский |
| DOI | 10.61011/OS.2024.01.57545.7-24 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Дополнительно | Новинка |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\73558 |
| Дата создания записи | 02.09.2024 |
Рассмотрена светоиндуцированная модификация тонких халькогенидных пленок Ge[2]Sb[2]Te[5] с помощью фемтосекундного лазерного излучения в ближнем ИК диапазоне (1030 nm), реализуемая посредством двухкоординатного (XZ) сканирования. При смещении образца вдоль оси пучка изменялись параметры воздействующего излучения вследствие изменения размера облучаемой области, что обеспечивало последовательную смену характерных режимов модификации: от формирования периодических двухфазных поверхностных структур, кристаллизации, возникновения предабляционных структур до абляции. Продемонстрировано, что XZ-сканирование является удобным способом как для определения необходимых для модификации пленки параметров излучения, так и для определения геометрии пучка.
Количество обращений: 6
За последние 30 дней: 0
