Details
| Title | Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 1. — С. 27-33 |
|---|---|
| Creators | Будаговский И. А.; Кузовков Д. О.; Лазаренко П. И.; Смаев М. П. |
| Organization | "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023)", конференция |
| Imprint | 2024 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика; Физическая оптика; тонкие пленки; фемтосекундная модификация пленок; XZ-сканирование; лазерные модификации; фемтосекундные импульсы; аморфные халькогениды; оптическая микроскопия; лазерное излучение |
| UDC | 535.2/3 |
| LBC | 22.343 |
| Document type | Article, report |
| File type | Other |
| Language | Russian |
| DOI | 10.61011/OS.2024.01.57545.7-24 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Additionally | New arrival |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\73558 |
| Record create date | 9/2/2024 |
Рассмотрена светоиндуцированная модификация тонких халькогенидных пленок Ge[2]Sb[2]Te[5] с помощью фемтосекундного лазерного излучения в ближнем ИК диапазоне (1030 nm), реализуемая посредством двухкоординатного (XZ) сканирования. При смещении образца вдоль оси пучка изменялись параметры воздействующего излучения вследствие изменения размера облучаемой области, что обеспечивало последовательную смену характерных режимов модификации: от формирования периодических двухфазных поверхностных структур, кристаллизации, возникновения предабляционных структур до абляции. Продемонстрировано, что XZ-сканирование является удобным способом как для определения необходимых для модификации пленки параметров излучения, так и для определения геометрии пучка.
Access count: 6
Last 30 days: 0
