?

Детальная информация
Таблица Карточка RUSMARC
Название: Rietveld refinement: practical pattern analysis using TOPAS
Авторы: Dinnebier Robert E.,
Организация: ProQuest (Firm)
Коллекция: Электронные книги зарубежных издательств; Общая коллекция
Тематика: Rietveld method.; X-rays — Diffraction.; Crystallography.; EBSCO eBooks
Тип документа: Другой
Тип файла: PDF
Язык: Английский
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: on1096221238

Разрешенные действия: –

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • Preface
  • Contents
  • 1. The powder diffraction method
  • 2. The Rietveld method
  • 3. Structure independent fitting
  • 4. Peak shapes: Instrument o microstructure
  • 5. Quantitative phase analysis
  • 6. Restraints, constraints and rigid bodies
  • 7. Solving crystal structures using the Rietveld method
  • 8. Symmetry mode refinements
  • 9. Magnetic refinements
  • 10. Stacking disorder
  • 11. Total scattering methods
  • 12. Multiple data sets
  • 13. Appendix: Mathematical basics
  • Index

Статистика использования

stat Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика