Детальная информация
Название | Analyzing Materials Using Joint X-Ray Fluorescence and Diffraction Spectra |
---|---|
Авторы | Mikhailov Igor F.; Baturin Alexey A.; Mikhailov Anton I. |
Коллекция | Электронные книги зарубежных издательств; Общая коллекция |
Тематика | Fluorescence spectroscopy.; X-ray spectroscopy.; X-rays — Diffraction.; Materials — Analysis.; EBSCO eBooks |
Тип документа | Другой |
Тип файла | |
Язык | Английский |
Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Ключ записи | on1132421415 |
Дата создания записи | 01.02.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа | Анонимные пользователи |
---|---|
Сеть | Интернет |
This book presents a complex approach to material composition determination based on the analysis of the joint X-ray spectrum, including fluorescence, scattering, and diffraction reflections. It considers fluorescence, scattered, and diffracted radiations within the common problem of analytical spectrum formation. The complex methods for analyzing the material composition by joint spectra of fluorescence, Compton scattering and diffraction proposed here allow for a widening of the area of the application of X-ray methods.The book will be useful for specialists in the field of solid state physi.
Место доступа | Группа пользователей | Действие |
---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0