Details
| Title | Эмиссионные и фотоэлектрические свойства наноструктурированных углеродных пленок: научный доклад: направление подготовки 03.06.01 «Физика и астрономия» ; направленность 03.06.01_04 «Физическая электроника» |
|---|---|
| Creators | Журкин Алексей Михайлович |
| Scientific adviser | Архипов Александр Викторович |
| Other creators | Краснова Надежда Константиновна |
| Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Imprint | Санкт-Петербург, 2020 |
| Collection | Научные работы аспирантов/докторантов ; Общая коллекция |
| Subjects | Фотопроводимость ; Пленки тонкие ; Автоэлектронная эмиссия ; углеродные квантовые точки ; низкопороговая полевая эмиссия электронов ; электронная структура ; туннельная спектроскопия ; СТМ ; АСМ ; фотоэлектрические свойства ; carbon quantum dots ; low-threshold field emission of electrons ; electronic structure ; tunneling spectroscopy ; STM ; AFM ; photoelectric properties |
| UDC | 537.533.2 ; 539.23 |
| Document type | Scientific report |
| File type | |
| Language | Russian |
| Level of education | Graduate student |
| Speciality code (FGOS) | 03.06.01 |
| Speciality group (FGOS) | 030000 - Физика и астрономия |
| DOI | 10.18720/SPBPU/6/2020/vn20-14 |
| Rights | Текст не доступен в соответствии с распоряжением СПбПУ от 11.04.2018 № 141 |
| Record key | ru\spstu\vkr\9426 |
| Record create date | 9/30/2020 |
В данной работе исследован механизм явления низковольтной "холодной" полевой эмиссии электронов тонкими углеродными пленками, наиболее ярко проявляющегося для пленок на кремниевых подложках со слоем естественного окисла, а также установление закономерностей фотоэлектрических явлений. Теоретически определена локальная электронная структура различных участков тонких углеродных пленок на кремнии.
In this work, the mechanism of the phenomenon of low-voltage "cold" field emission of electrons by thin carbon films, which is most pronounced for films on silicon substrates with a layer of natural oxide, is investigated, as well as the establishment of regularities of photoelectric phenomena. The local electronic structure of various regions of thin carbon films on silicon has been determined theoretically.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | All |
|
Access count: 100
Last 30 days: 5
