Details

Title: Эмиссионные и фотоэлектрические свойства наноструктурированных углеродных пленок: научный доклад: направление подготовки 03.06.01 «Физика и астрономия» ; направленность 03.06.01_04 «Физическая электроника»
Creators: Журкин Алексей Михайлович
Scientific adviser: Архипов Александр Викторович
Other creators: Краснова Надежда Константиновна
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2020
Collection: Научные работы аспирантов/докторантов; Общая коллекция
Subjects: Фотопроводимость; Пленки тонкие; Автоэлектронная эмиссия; углеродные квантовые точки; низкопороговая полевая эмиссия электронов; электронная структура; туннельная спектроскопия; СТМ; АСМ; фотоэлектрические свойства; carbon quantum dots; low-threshold field emission of electrons; electronic structure; tunneling spectroscopy; STM; AFM; photoelectric properties
UDC: 537.533.2; 539.23
Document type: Scientific report
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Graduate student
Speciality code (FGOS): 03.06.01
Speciality group (FGOS): 030000 - Физика и астрономия
DOI: 10.18720/SPBPU/6/2020/vn20-14
Rights: Текст не доступен в соответствии с распоряжением СПбПУ от 11.04.2018 № 141
Record key: ru\spstu\vkr\9426

Allowed Actions: Read Download (1.4 Mb)

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В данной работе исследован механизм явления низковольтной "холодной" полевой эмиссии электронов тонкими углеродными пленками, наиболее ярко проявляющегося для пленок на кремниевых подложках со слоем естественного окисла, а также установление закономерностей фотоэлектрических явлений. Теоретически определена локальная электронная структура различных участков тонких углеродных пленок на кремнии.

In this work, the mechanism of the phenomenon of low-voltage "cold" field emission of electrons by thin carbon films, which is most pronounced for films on silicon substrates with a layer of natural oxide, is investigated, as well as the establishment of regularities of photoelectric phenomena. The local electronic structure of various regions of thin carbon films on silicon has been determined theoretically.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
-> Internet All Read Print Download

Usage statistics

stat Access count: 30
Last 30 days: 7
Detailed usage statistics