Details

Рассмотрены оптические системы интерферометров для контроля формы выпуклых асферических поверхностей, в том числе высокоапертурных. В измерительных ветвях этих интерферометров не используются оптические элементы, диаметры которых существенно больше диаметров контролируемых поверхностей. Дано представление о методе оптической компенсации и нетрадиционной реализации метода анаберрационных точек. Много внимания уделено конструктивным особенностям, параметрам и характеристикам элементов измерительных ветвей этих интерферометров. Материалы, предлагаемые в данном учебном пособии, ранее в учебной литературе не освещались.Для студентов, обучающихся по направлению подготовки «Оптотехника», изучающих дисциплины «Оптические измерения», «Оптические измерительные и контрольно-юстировочные приборы», «Исследование и контроль оптических систем». Пособие также может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании и выполнении квалификационных работ.