Details
| Title | Исследование технологических дефектов в оксидных кристаллах редкоземельных соединений = Investigation of technological defects in oxide crystals of rare earth compounds // Инженерная физика = Engineering physics: научно-технический журнал. – 2022. – № 9. — С. 13-17 |
|---|---|
| Creators | Антонов В. А. |
| Imprint | 2022 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика ; Физика твердого тела. Кристаллография в целом ; редкоземельные соединения ; кристаллы ; оксидные кристаллы ; технологические дефекты ; монокристаллы ; спектры поглощения ; коэффициент преломления ; rare earth compounds ; crystals ; oxide crystals ; technological defects ; single crystals ; absorption spectra ; refractive index |
| UDC | 539.2 |
| LBC | 22.37 |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.25791/infizik.9.2022.1284 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\69365 |
| Record create date | 11/17/2022 |
Представлены результаты исследований технологических дефектов на основе F-центров в оксидных монокристаллах различных редкоземельных соединений: Y[2]Ti[2]O[7], Gd[2]Ti[2]O[7], LiGdO[2], YAlO[3], YSCO[3]. Исследованы спектры поглощения до и после радиационного воздействия gamma-излучением. Рассчитаны концентрации технологических дефектов на основе F-центров. Определены значения коэффициента преломления и края собственного поглощения в УФ области спектра.
The results of studies of technological defects based on F-centers in oxide single crystals of various rare-earth compounds are presented: Y[2]Ti[2]O[7], Gd[2]Ti[2]O[7], LiGdO[2], YAlO[3], YSCO[3]. Absorption spectra before and after radiation exposure by gamma radiation have been studied. Concentrations of technological defects based on F-centers are calculated. The values of the refractive index and the edge of intrinsic absorption in the UV region of the spectrum are determined.
