| Table | Card | RUSMARC | |
|
|
Allowed Actions: View |
Annotation
Анализ действующей системы контроля радиационной стойкости показывает, что для эффективности ее работы необходимо проведение операций контроля в процессе серийного производства с учетом особенностей каждого этапа жизненного цикла изделий микроэлектроники. В работе предложен подход к обеспечению прогнозного контроля стабильности радиационной стойкости изделий микроэлектроники в процессе производства с учетом категории радиационной стойкости каждого типа микросхем. Показано, что разработанные базовые алгоритмы прогнозного контроля стабильности радиационной стойкости микросхем в серийном производстве для каждой из категорий радиационной стойкости гарантируют необходимую полноту, достоверность и информативность контроля при минимизации технико-экономических затрат и объема радиационных испытаний.
The analysis of operating system of radiation hardness assurance shows that in order to work effectively, it requires radiation hardness control during fabrication, considering the features of each stage of microelectronic product life cycle. In this work an approach to providing predictive control of the stability of the radiation resistance of microelectronics products in the production process, taking into account the category of radiation resistance of each type of microcircuits. It is shown that the developed basic algorithms for predictive control of the stability of the radiation resistance of microcircuits in mass production for each of the categories of radiation resistance guarantee the necessary completeness, reliability and informative control while minimizing technical and economic costs and the volume of radiation tests.
Included in
Usage statistics
|
|
Access count: 11
Last 30 days: 1 Detailed usage statistics |