Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: View |
Annotation
Представлены результаты численного моделирования оптических свойств одномерного (1D) фотонного кристалла (ФК) с дефектом на основе слоев Si-SiO[2] в ближнем ИК диапазоне. Оптическая толщина слоев, образующих ФК, составляла lambda/4, 3lambda/4 и 10lambda/4. Дефект был образован воздушным зазором в середине ФК. Изучено влияние толщины дефекта на спектральное положение полосы пропускания дефекта. Показано, что чувствительность к толщине дефекта d лежит в пределах Deltalambda/Delta d=330-1200 nm/mum и 0.6-0.85 dB/nm, в зависимости от геометрии датчика и метода измерений. Это делает 1D ФК с дефектом перспективными для использования в датчиках малых перемещений в качестве чувствительного элемента.
Included in
Usage statistics
|
Access count: 7
Last 30 days: 1 Detailed usage statistics |