Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: View |
Annotation
В инфракрасной (ИК) области спектра методом ИК спектральной эллипсометрии (СЭ) исследованы оптические свойства монокристаллических образцов узкозонных вырожденных полупроводников Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3]. Изучены транспортные свойства из друде-подгонки диэлектрических функций, полученных с помощью спектроскопической эллипсометрии. Детально исследовано поведение объемного и поверхностного плазмон-поляритонов. Рассчитаны дисперсия и длина свободного пробега плазмона, глубина скин-слоя для проводящей (исследуемые материалы) и диэлектрической поверхности (воздух). Оценен вклад плазмона в оптические свойства из спектральной плотности для образцов Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3].
Included in
Usage statistics
|
Access count: 86
Last 30 days: 7 Detailed usage statistics |