Details

Title: Исследование плазмонного резонанса в Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3] методом инфракрасной спектральной эллипсометрии // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 249-253
Creators: Ализаде Э. Г.
Imprint: 2022
Collection: Общая коллекция
Subjects: Физика; Спектроскопия; спектральная эллипсометрия; инфракрасная эллипсометрия; плазмонный резонанс; плазмоны; поляритоны; узкозонные проводники; друде-подгонка
UDC: 535.33
LBC: 22.344
Document type: Article, report
File type: Other
Language: Russian
DOI: 10.21883/OS.2022.02.51991.2599-21
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key: RU\SPSTU\edoc\68522

Allowed Actions: View

Annotation

В инфракрасной (ИК) области спектра методом ИК спектральной эллипсометрии (СЭ) исследованы оптические свойства монокристаллических образцов узкозонных вырожденных полупроводников Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3]. Изучены транспортные свойства из друде-подгонки диэлектрических функций, полученных с помощью спектроскопической эллипсометрии. Детально исследовано поведение объемного и поверхностного плазмон-поляритонов. Рассчитаны дисперсия и длина свободного пробега плазмона, глубина скин-слоя для проводящей (исследуемые материалы) и диэлектрической поверхности (воздух). Оценен вклад плазмона в оптические свойства из спектральной плотности для образцов Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3].

Usage statistics

stat Access count: 86
Last 30 days: 7
Detailed usage statistics