Details

Title: Идентификация NV-центров в синтетических флуоресцентных наноалмазах и контроль дефектности кристаллитов методом электронного парамагнитного резонанса // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 332-341
Creators: Осипов В. Ю.; Богданов К. В.; Treussart F.; Rampersaud A.; Баранов А. В.
Imprint: 2022
Collection: Общая коллекция
Subjects: Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; кристаллиты; дефектность кристаллитов; электронный парамагнитный резонанс; контроль дефектности кристаллитов; идентификация NV-центров; флуоресцентные наноалмазы; синтетические наноалмазы
UDC: 539.2
LBC: 22.37
Document type: Article, report
File type: Other
Language: Russian
DOI: 10.21883/OS.2022.02.52004.2872-21
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key: RU\SPSTU\edoc\68535

Allowed Actions: View

Annotation

Исследованы 100 nm частицы синтетического алмаза с большим (>4 ppm) количеством азот-вакансионных (NV{-}) центров. Последние обнаруживают линии, связанные с запрещенными Delta m[s]=2 и разрешенными Delta m[s]=1 переходами на спектрах электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) основного состояния NV- центра. Интенсивность люминесценции частиц в диапазоне 600-800 nm увеличивается с дозой облучения 5 MeV электронами и коррелирует с интегральной интенсивностью линии ЭПР с g-фактором g=4.27. Эта величина используется для оценки концентрации NV(-) центров и отбора алмазных порошков с наибольшей интенсивностью флуоресценции. Зависимость пиковой интенсивности ЭПР сигнала Delta m[s]=2 перехода NV{(-)} центра от микроволновой мощности имеет вид кривой с насыщением и последующим спадом, и достаточно хорошо характеризует кристаллическое качество локального окружения исследуемых центров в этих частицах. Интенсивность x,y Delta m[s]=1 перехода (при ~281.2 mT, 9.444 GHz) оказывается более чувствительной к изменению размера частицы в субмикронном диапазоне и появлению приповерхностных дефектов, полученных в ходе механической обработки.

Usage statistics

stat Access count: 25
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics