Details

Title: Зависимость фотолюминесценции от температуры отжига поликристаллических слоев ZnO : Te/Si(111) // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 417-419
Creators: Омаев А. К.; Багамадова А. М.; Зобов М. Е.
Imprint: 2022
Collection: Общая коллекция
Subjects: Физика; Люминесценция; фотолюминесценция; поликристаллические слои; температура отжига; оксид цинка; поликристаллические пленки; свойства пленок; спектры излучения пленок
UDC: 535.37
LBC: 22.345
Document type: Article, report
File type: Other
Language: Russian
DOI: 10.21883/OS.2022.03.52172.2721-21
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key: RU\SPSTU\edoc\68552

Allowed Actions: View

Annotation

Поликристаллические пленки ZnO : Te/Si(111) получены методом газофазной эпитаксии в водороде в проточном реакторе пониженного давления. Свойства пленок ZnO : Te/Si(111) исследованы с помощью фотолюминесценции, рентгеновской дифракции и атомной силовой микроскопии. Фотолюминесцентные измерения показали, что в спектре излучения пленок ZnO : Te/Si(111) наблюдается весь диапазон видимой части спектра. Изучение спектра пленок ZnO : Te/Si(111) при 77 K показывает, что люминесценция смещается в красную область. Отжиг пленок при различных температурах (300-500 C) приводит к общему уменьшению интенсивности и к смещению излучения в длинноволновую область спектра.

Usage statistics

stat Access count: 29
Last 30 days: 3
Detailed usage statistics